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首页 > 产品分类 > 芯片/PCB级测试及整改设备 > 近场探头 >LF1  
LF1
 
 

  针对越来越复杂的电子产品,LANGER公司开发了多种近场测试探头,用于近场测试和产品整改(Debug)。
  整改测试可用于产品研发的任何阶段主要目的是找出干扰源并了解干扰的频率和能量。
  整改测试量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪组成。
  所有的电磁干扰都可分为两种分量:一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以,可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度,从而找出辐射大的零件或电路。

LF 1 :

  * H-Field Probe LF-R 400
  * H-Field Probe LF-U 2,5
  * H-Field Probe LF-U 5
  * H-Field Probe LF-B 3
  * Cable SMB-BNC
  * Case 175 x 140 x 32 mm

产品性能: 100KHz – 50MHz

 
电话: 010-68255404  传真: 010-68251423
     全国免费电话: 800 810 7051
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