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IC测试板
 
 

IC S 103集成电路电磁干扰扫描系统

特点:
  IC Scanner(集成电路电磁场扫描系统)能使用ICR近场探头,对集成电路进行精确的电磁场扫描测量。探头可以在集成电路表面进行三维移动并可以沿z轴旋转。扫描器的顶部是敞开的,允许用户使用显微镜观察探头位置。

应用:
 * 使用IC-芯片近场探头扫描集成电路的表面电磁场分布
 * 在新IC设计阶段使用
 * 调试IC内部的电场和磁场耦合
 * 对IC的引脚分配进行最优化设计

主要技术指标:

X Y Z Z-旋转
最大行进范围 25mm 25mm 25mm 360°
最小行进轨迹 5μm 5μm 5μm
行进速度 5mm/s 5mm/s 5mm/s 90°/s


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