如果电子产品在 burst 和 ESD 脉冲测试中发生功能失效,那么被测设备(EUT)必须进行整改。
E1 开发系统被用于快速和精准的确定 EUT 内功能失效的原因,这允许用户直接在PCB板上进行故障定位。
SGZ 21 burst 发生器可以产生测试脉冲,这些脉冲通过导线连接或通过磁场或电场源被耦合到 EUT 中,在测试过程中,可以实时监控工作信号。
* Burst Generator SGZ 21
* EMC Sensor S31 with OFP
* Magnetic field probe MS 02
* Magnetic field source BS 02
* Magnetic field source BS 04 DB
* Magnetic field source BS 05 D
* Magnetic field source BS 05 DU
* E-field source ES 00
* E-field source ES 01
* E-field source ES 02
* E-field source ES 05 D
* E-Field Source ES 08 D
* Accessories
* Instruction
* Case with foamed plastic inset
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